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Pletronics晶振,差分晶振,LV77J晶振,差分晶振,相較于普通晶振而言,低電流電壓可達到低值1V, 工作電壓在2.5V-3.3V,是普通貼片晶振所不能夠達到的,差分晶振具有低電平,低抖動,低功耗等特性.差分晶振作為目前行業(yè)中高要求、高技術石英晶體振蕩器,具有相位低、損耗低的特點.
石英晶振高精度晶片的拋光技術:貼片晶振是目前晶片研磨技術中表面處理技術的最高技術,最終使晶振晶片表面更光潔,平行度及平面度更好,降低諧振電阻,提高Q值。從而達到一般研磨所達不到的產品性能,使石英晶振的等效電阻等更接近理論值,使晶振可在更低功耗下工作。使用先進的牛頓環(huán)及單色光的方法去檢測晶片表面的狀態(tài)。
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型號 | 符號 | LV77J晶振 |
輸出規(guī)格 | - | LVDS |
輸出頻率范圍 | fo | 12KHZ~20MHZ~156.25MHZ |
電源電壓 | VCC | 3.3V |
頻率公差 (含常溫偏差) |
f_tol | ±50×10-6 max., ±100×10-6 max. |
保存溫度范圍 | T_stg | -40?+85℃ |
運行溫度范圍 | T_use | -10?+70℃ ,-40?+85℃ |
消耗電流 | ICC | 20mA max. |
待機時電流(#1引腳"L") | I_std | 10μA max. |
輸出負載 | Load-R | 100Ω (Output-OutputN) |
波形對稱 | SYM | 45?55% [at outputs cross point] |
0電平電壓 | VOL | - |
1電平電壓 | VOH | - |
上升時間 下降時間 | tr, tf | 0.4ns max. [20?80% Output-OutputN] |
差分輸出電壓 | VOD1, VOD2 | 0.247?0.454V |
差分輸出誤差 | ⊿VOD | 50mV [⊿VOD=|VOD1VOD2|] |
補償電壓 | VOS | 1.125?1.375V |
補償電壓誤差 | ⊿VOS | 50mV |
交叉點電壓 | Vcr | - |
OE端子0電平輸入電壓 | VIL | VCC×0.3 max. |
OE端子1電平輸入電壓 | VIH | VCC×0.7 min. |
輸出禁用時間 | tPLZ | 200ns |
輸出使能時間 | tPZL | 2ms |
周期抖動(1) | tRMS | 5ps typ. (13.5MHz≦fo<27MHz) / 2.5ps typ. (27MHz≦fo<212.5MHz) (σ) |
tp-p | 33ps typ. (13.5MHz≦fo<27MHz) / 22ps typ. (27MHz≦fo<212.5MHz) (Peak to peak) | |
總抖動(1) | tTL | 50ps typ. (13.5MHz≦fo<27MHz) / 35ps typ. (27MHz≦fo<212.5MHz) [tDJ + n×tRJ n=14.1(BER=1×10-12) (2)] |
相位抖動 | tpj |
1.5ps max. (13.5MHz≦fo<27MHz) / 1ps max. (27MHz≦fo<212.5MHz) [13.5MHz≦fo<40MHz,fo offset:12kHz?5MHz fo≧40MHz,fo offset:12kHz?20MHz] |
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晶振在工作中出現異常技術問題:
這些晶振知識介紹是指,晶振在產品上線之后發(fā)生不良品或者沒反應的情況下,自檢辦法。石英晶振如果在電路上的功能不規(guī)則或根本無法全部晶振找出得到了應用操作,請使用以下的清單找出可能存在的問題。請按照確定的因素和可能的解決方案的說明。
我們從晶振使用輸出無信號開始尋找相關問題。
我們可以先使用示波器或者頻率計數器來檢查石英晶體終端的兩個信號,如果沒有信號輸出,請按照步驟1-1到1-4步執(zhí)行檢查。如果有從石英晶振(XOUT)的輸出端子的輸出信號,而是從在終端(辛)輸出沒有信號,請檢查石英晶振體以下step1-5到步驟1-6。
你可以先把晶體卸載下來并測試晶振的頻率和負載電容,看看他們是否能振動,也可以使用專業(yè)的石英晶體測試儀器來檢測 。如果你沒法檢測你也可以將不良品發(fā)送給我公司,我們檢測分析之后告訴你結果。
如果有下列情況發(fā)生,晶振不起振,首先你先查看你產品上使用的負載電容CL是否對,是否跟你的線路相匹配,或者是晶振的精度是否符合你的要求,或者你可以把產品發(fā)送回我公司分析。如果晶振頻率和負載電容跟要求相對應的話,我們將需要進行等效電路測試。Pletronics晶振,差分晶振,LV77J晶振
比如等效電路測試如下:
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