原因分析1:
主要是由于目前節(jié)能大趨勢的影響下,板子整體的輸入功率會越來越低.而晶振的起振是由于電路中的噪音引起的,隨著諧振的增加, 逐漸達到穩(wěn)定的石英晶體頻率和一定的幅度.稱之為諧振(共振).噪音就是雜亂無章的振蕩頻率,晶體頻率是穩(wěn)定的頻率,經(jīng)過一定時間,晶體的頻率會從許多頻率中脫影而出,從而振蕩器的頻率穩(wěn)定在晶體的頻率.因此起振功率小會,造成晶體振蕩頻率無法從一堆的噪音中顯示出來,所以造成此現(xiàn)象.
解決的辦法,一是對電路反饋電路進行調(diào)整,提高負阻值,通常這種方法更容易實現(xiàn),只需要調(diào)整Cd,Cg的電容值就可以很容易達成.為保證電路工作正常,建議在進行電路設計時負電阻在石英諧振器電阻的3-10倍左右.二.石英晶體內(nèi)部測試功率從0.01UW開始測試,以保證符合低功率的要求 .

原因分析2:
主要是隨著起振過程中,IC溫度逐漸上升,帶動整體板子的溫度也同步上升.在板子上對溫度敏感的元器件除了石英晶體,還有電容,電感,電阻等相關(guān)的電子元器件,因此可能為這些元器件隨著溫度上升后發(fā)生改變,導致雜散電容CS的變化,從而抓不到主頻.
解決的辦法,石英晶振具有溫度特性曲線一般的溫度范圍為-20~70度或-40~85度大范圍要求（特殊溫度要求依料號定義）,基本要求不能超過頻率范圍值,而且出貨及進料均會做TC測試要求.而且溫度特性與設計有關(guān).所以只要單體測試晶體就可以知道是否是晶體引起的,還是其他元器件引起的.

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晶振上板測試為何波形不穩(wěn)

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